五轴坐标测量机 REVO 五轴联动扫描基础科学与技术（图片 + 视频）

    Renscan5是一种革命性的新测量机技术，具有无与伦比的测量速度和精度，将检测生产量提高了近50倍。

    5轴测量技术同样可以使用在那些通常使用触发式测量或3轴扫描测量的应用中，但同时可以额外节省用户的使用时间。

    即使在测量开始之前，这一技术也减少了设置的时间。因为Renscan5测座（例如REVOTM）只需要一个大约20分钟的校验过程后就可以在空间所有角度_上非常精确地旋转定位。这代替了传统的可能花费数小时的多位置校验程序。

更快标定

对传统的坐标测量机用测量系统进行标定需要花费大量的时间，而这些时间本可用来测量工件。REVO-2标定方法采用安装在工作台上的标准球，简单实用，可测定测座和测头的实际几何尺寸，一次操作即可在任意位置进行测量。

如果坐标测量机仅用于单个或有限数量的工件，典型情况下可能会使用10个测座方向。这些位置的标定时间可能会花费30分钟左右。REVO-2仅需要20分钟即可完成。

如果坐标测量机用于多个工件，典型情况下可能会使用40个测座方向，极大延长了标定时间 — 大约2小时；而REVO-2仅需要20分钟即可完成。

标定过程将定期重复进行，以便符合质量管理程序或修正测头碰撞问题，因此日积月累，可以节省大量时间。

     

   即使在测量开始之前，这一技术也减少了设置的时间。因为Renscan5TM测座（例如REVOTM）只需要一个大约20分钟的校验过程后就可以在空间所有角度上非常精确地旋转定位。这代替了传统的可能花费数小时的多位置校验程序。

     在只需要简单的触发点测量的场合，可以在2轴无极定位的伺服测座高速类似“飞行”的测量运动状态下采集测量点。对于测量孔上一连串的数据点，测座轴旋转至需要的位置“轻拂”测量表面后测针离开，获取接触点信息。

 

   即使在测量开始之前，这一技术也减少了设置的时间。因为Renscan5TM测座（例如REVOTM）只需要一个大约20分钟的校验过程后就可以在空间所有角度上非常精确地旋转定位。这代替了传统的可能花费数小时的多位置校验程序。

     在只需要简单的触发点测量的场合，可以在2轴无极定位的伺服测座高速类似“飞行”的测量运动状态下采集测量点。对于测量孔上一连串的数据点，测座轴旋转至需要的位置“轻拂”测量表面后测针离开，获取接触点信息。

 这种独创的技术也可以在平面或*曲面快速采集点。测量机运动轴控制测座平行于测量表面运动，同时端部感应”测头在不需要测量机减速的条件下轻拂测量表面采集点（尽管在很多应用中扫描可以更快）众多现代零部件都使用CAD设计，设计者可以有更大的*度来设计复杂的轮廓。当成品工件需要检测的时候，使用触发测量或3轴扫描将耗费巨大的精力。而5轴扫描技术对于这种需要获取大量高精度测量点信息的应用将是无价的。

  如果试图在高速下应用传统的3轴扫描，由于机器结构的刚性在运动中的负荷等问题将会产生较大的动态误差。

5轴测量一Renscan5TM续.

Renscan5TM使用全新的技术来消除扫描结果中的动态误差-通过保持机器的X、Y、Z轴速度，在两个伺服轴控制测座使用“端部 感应”测头扫描物体表面的同时，完全消除产生动态误差的加速和减速。

在某些应用中无法实现在测量工件的同时机器各个轴不运动。取而代之，是让各个轴按某一矢量方向（在恒定速度下）运动从而在平稳的运动中得到最小的加速和减速，确保伺服测座和“端部感应”测头扫描的精度。

REV0 TM 是第一款使用Renscan5TM的产品，它打破了传统3轴扫描产品（低速）在速度/精度上受到巨大限制的障碍。尽管3轴扫描可以最大运行至80毫米/秒，但精度有所降低。对于精确的测量通常速度要求大约为15-20毫米/秒。

REVOTM速度最高可达500毫米/秒，同时保持精度不变。

由于拥有诸多优势因此对于Renscan5TM技术很难为它定义一种典型的应用。有些客户仅证明自己的投资节省了标定时间，另一些客户则充分利用了超高速扫描的优势。在任何一种情况下结果都是相同的，那就是极大的提高了检测效率。

   Renscan5使用“端 部感应”这种创新的方法在超高速下极近的接触物体表面采集超高精度的测量点数据。 

“端部感应”一工作原理：

端部感应”测头安装在可以空 间任意方向定位的2轴伺服测座上，乍一看好像一根普通的碳纤维加长杆在顶端安装了一根测针。其实，有很多非常重要的差异：

碳纤维的测针架是空心的，能够让激光束穿过其中心射入位于测针后部的反射镜。反射光束通过测针架返回并聚.

焦在位于伺服测座内部的位置传感元件（PSD）上。

当测尖开始接触物体表面测针架产生轻微的弯曲，导致激光束在PSD上的位置移动。然后系统开始调整5个轴（3个机器轴和2个测座旋转轴）来保持一个固定的110 um的偏移量。